Dr. Sebastian Schädler
Angestellt, Applikations-Spezialist FIB-SEM, Carl Zeiss AG
Heidenheim, Deutschland
Werdegang
Berufserfahrung von Sebastian Schädler
Bis heute 10 Jahre und 4 Monate, seit März 2014
Applikations-Spezialist FIB-SEM
Carl Zeiss AG
8 Monate, Aug. 2013 - März 2014
Wissenschaftler / Ingenieur
NMI Naturwissenschaftliches und Medizinisches Institut- Methodenentwicklung Cryo-FIB-SEM-Tomographie - Elektronenmikroskopische Qualitätskontrolle
1 Jahr und 10 Monate, Dez. 2011 - Sep. 2013
Post-Doc
Universität Tübingen
4 Jahre und 10 Monate, Feb. 2007 - Nov. 2011
Wissenschaftlicher Mitarbeiter
Universität Tübingen
Doktorand Angewandte Geowissenschaften
1 Jahr und 3 Monate, März 2006 - Mai 2007
Praktikant / Diplomand
NMI Naturwissenschaftliches und Medizinisches InstitutPraktikant => Diplomand => Mitarbeiter in Teilzeit: Elektronenmikroskopie von Grenzflächen
1 Jahr, März 2002 - Feb. 2003
Praktikant
SLF Eidgenössisches Institut für Schnee- und Lawinenforschung, Davos, Schweiz
Validierung FE Modelle, Kalibrierung von kapazitiven Dichtesensoren
Ausbildung von Sebastian Schädler
4 Jahre und 10 Monate, Feb. 2007 - Nov. 2011
Geowissenschaften
Eberhard-Karls-Universität Tübingen
Softwareentwicklung für die Planung und Bewertung nachhaltiger Wiedernutzungsoptionen für Brachflächen
2 Jahre und 2 Monate, Sep. 2004 - Okt. 2006
Applied Environmental Geosciences
Universität Tübingen
3 Jahre und 8 Monate, Okt. 2000 - Mai 2004
Physikalische Technik
FH Ravensburg-Weingarten
Verfahrenstechnik
Sprachen
Deutsch
Muttersprache
Englisch
Fließend
Spanisch
Fließend
Französisch
Fließend