Yashwanth Reddy Manda

• Investigating various gettering processes for epitaxially grown Si wafers • Implementing TOPCON contacts on various silicon based materials to observe the gettering and passivation • Utilizing deposition techniques such as ALD, APCVD, and PECVD to deposit thin layers of material onto substrates. • Working in a clean room and using various wet-chemical processes • Knowledge of Electrical, optical characterization and material analysis techniques • Analysis and visualization of data using Python

• Arranged and tested a measurement setup to perform the sheet resistance measurements of shallow junctions on doped thin film samples using ALD and compare the results to traditional measurement equipment inside the clean room • Used Ellipsometry and Atomic Force microscopy (AFM) for the thickness and roughness estimation of the surface • Automation of the process using VEE PRO and MATLAB • Documented the results using LATEX

• Bereitstellung von Datenbankunterstützung für den Kundenstandort in einer bestimmten geografischen Region • Durchführung von Tests und Analysen im Web und auf Systemen, um Probleme zu identifizieren • Betroffene Änderungen je nach Kundenbedürfnis zeitnah und professionell

• CMOS-Siliziumprozess, Halbleiter technologie, MEMS technologien, optoelektronische und photovoltaische Bauelemente, Verpackung von Mikroelektronik und Mikrosystemen • Zusätzliche Themen: Elektronische Schaltungen, Verteilte Steuerungssysteme • Abschlussnote: gut (1,9)

• Schaltungen und Netzwerke, elektronische Geräte und Schaltungen, lineare und digitale IC-Anwendungen, Mikroprozessoren und Mikrocontroller • Zusätzliche fächer: Mathematische Methoden, Betriebswirtschaftslehre und Finanzanalyse • Abschlussnote: gut (2,0)